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同方威视参加IAEA核安保辐射探测技术会议(组图)
特种装备网 发布时间:2018-05-17
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2018 年4月16日至20日,同方威视参加了由IAEA(国际原子能机构)举办的“第二次核安保辐射探测仪器的趋势、挑战和机会技术会议”。会议旨在汇聚辐射探测仪器专家、用户及设备制造商,共同探讨辐射探测领域所面临的新威胁和发展趋势。

同方威视参加IAEA核安保辐射探测技术会议(组图)

会议期间,李元景高级副总裁与IAEA辐射安全局领导就双方深化设备维护和人员培训合作、参与IAEA全球项目等议题进行了深入交流,为未来充分利用好IAEA这一国际平台提供了重要指导。

同方威视参加IAEA核安保辐射探测技术会议(组图)

同方威视李玉兰在主会场致辞演讲,着重宣传了同方威视各类辐射探测设备的特性特点及应用前景,受到了与会代表的广泛关注。

同方威视参加IAEA核安保辐射探测技术会议(组图)

同方威视辐射探测产品吸引众多参观者

展会期间,同方威视结合论坛主题,重点宣传展示了同方威视出入口放射性物质检测、环境放射性物质检测、高纯锗辐射探测仪等全系列辐射探测技术产品。特别是本次首度亮相的高纯锗辐射探测仪,其核心探测器由清华大学和同方威视共同研发,各方面性能指标均达到国际领先水平,实现了核心技术国产化,产品主要应用于放射性核素的检测和识别。凭借其自主研发背景、行业领先的辐射探测能力等特点,吸引了不少来自IAEA成员国及业界的专家到访展台咨询交流。

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[来源:同方威视技术股份有限公司责任编辑:admin]
官方微信号:tezhongzhuangbei
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